Elektron Mikroskoplarının Çalışma Prensibi (Diyagramlı)

Elektron mikroskoplarının çalışma prensibi hakkında bilgi edinmek için bu makaleyi okuyun!

Çalışma prensibi:

Bir elektron mikroskobu, nesnenin görüntüsünü üretmek için bir 'elektron ışını' kullanır ve büyütme 'elektromanyetik alanlar' ile elde edilir; Işık veya optik mikroskoplardan farklı olarak, görüntüyü üretmek için 'ışık dalgalarının' kullanıldığı ve büyütmenin bir 'optik mercek sistemi' ile elde edildiği.

Daha önce tartışılan, ışığın dalga boyu ne kadar küçükse, çözüm gücü o kadar büyüktür. Yeşil ışığın dalga boyu (= 0.555), elektron ışınınınkinden 10.000 kat daha yüksektir (= 0.000005u veya 0.05;; 1µ = 10.000)).

Bu nedenle, daha küçük olan sayısal açıklığa rağmen, bir elektron mikroskobunun, ışık mikroskobu ile 0.2o ile karşılaştırıldığında, 0.001u (= 10 A) kadar küçük nesneleri çözebilmesi mümkündür. Bu nedenle, bir elektron mikroskobunun çözme gücü, ışık mikroskobunun 200 katıdır. Işık mikroskobundaki X 2000'e kıyasla X 400.000'e kadar yararlı büyütme sağlar. Bu nedenle, yararlı büyütme bir elektron mikroskobunda, ışık mikroskobundakinden 200 kat daha fazladır.

Aşağıda açıklandığı gibi üç tip elektron mikroskobu vardır:

(1) İletim Elektron Mikroskobu (TEM):

Bu mikroskopta, bir elektron tabancasından bir elektron ışını, mikroskobik nesnenin ultra-ince bir kısmı boyunca iletilir ve görüntü, elektromanyetik alanlar tarafından büyütülür. Bakteriler ve diğer hücreler gibi mikroskobik nesnelerin iç yapılarının daha ince detaylarını gözlemlemek için kullanılır.

İncelenecek olan örnek, son derece ince bir kuru film veya küçük bir ekranda ultra-ince bir bölüm olarak hazırlanır ve mikroskopta manyetik kondansatör ve manyetik amaç arasındaki bir noktada sokulur (Şekil 4.13).

Nokta bir ışık mikroskobu aşaması ile karşılaştırılabilir. Büyütülmüş görüntü, hava geçirmez bir pencereden flüoresan bir ekranda görüntülenebilir veya dahili bir kamera tarafından fotoğraf plakasına kaydedilebilir. Modern modellerde fotoğrafı dijital kamera ile kayıt etme imkanı bulunmaktadır.

(2) Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM):

Bir taramalı elektron mikroskobunda, numune, elektron tabancasından dar bir elektron ışınına maruz bırakılır; bu, numunenin yüzeyinde hızla hareket eder veya tarar (Şekil 4.13). Bu, numune yüzeyinden ikincil elektron duşunun ve diğer radyasyon türlerinin serbest kalmasına neden olur.

Bu ikincil elektronların yoğunluğu, ışınlanmış nesnenin şekline ve kimyasal bileşimine bağlıdır. Bu elektronlar, elektronik sinyaller üreten bir dedektör tarafından toplanır. Bu sinyaller, bir katod ışını tüpü (CRT) üzerinde bir görüntü üretmek için bir televizyon sistemi şeklinde taranır.

Görüntü, CRT'den yakalanarak kaydedilir. Modern modellerde fotoğrafı dijital kamera ile kayıt etme imkanı bulunmaktadır. Bu mikroskop, mikroskobik nesnelerin yüzey yapısını gözlemlemek için kullanılır.

(3) Taramalı ve Aktarımlı Elektron Mikroskobu (STEM):

Hem transmisyon hem de taramalı elektron mikroskobu fonksiyonlarına sahiptir.

Elektron Mikroskoplarının Sınırlamaları:

Elektron mikroskoplarının sınırlamaları aşağıdaki gibidir:

(a) Canlı örnek gözlemlenemez.

(b) Elektron ışınının nüfuz gücü çok düşük olduğundan, nesnenin çok ince olması gerekir. Bunun için örnek gözlemden önce kurutulur ve ultra-ince bölümler halinde kesilir.